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产品展示

YDO-DM CCD/CMOS光电性能测试系统

发布时间:2018-05-17 点击量:592
光学检测原理及优缺点

远大光学(YDO)基于研发团队十余年的研发经验推出的全新的CCD/CMOS 光电性能测试系统,该系统由四部分组成:

YDO- DM -SPC  相对光谱响应度测试仪

YDO- DM -MTF 传递函数测试仪

YDO- DM -REP   绝对/相对辐射响应测试仪  

YDO- DM -QED  标准辐射计    

该测试系统主要用于测试图像传感器线阵、面阵CCD/CMOS的光电辐射响应性能,如光谱响应度、单色波长MTF或全色光的MTF、辐射响应度、信噪比、动态范围、响应非线性、响应非均匀性等。

系统特点

该系统由四个测试组件组成,每个组件皆可以单独工作,根据您的需求可以全系统定制,配套成全套测量系统,也可以根据需要定制其中任意一个组件。各组件的主要特点如下。

YDO-DM-SPC 相对光谱响应度测试仪,主要用于测量CCD./CMOS以及单元探测器相对光谱响应度的测试仪器 , 采用高稳定的光源和高性能单色仪产生高功率的单色光。主要特点如下。

光谱分辨率高, 2nm;

波长重复性好:小于±0.5nm;

稳定度:0.2%/2h;

光谱范围:350nm~1050nm。

YDO-DM-MTF 传递函数测试仪,主要用于测试CCD/CMOS的传函。采用具有高传函的高级光学镜头、具有良好朗伯特性的照明光源、根据需求定制的分划板。主要特点如下。

标准光学镜头传函高:0.66@150lp/mm;

小像元尺寸成像器件:3.5μm;

照明光源稳定度高:0.2%/h;

根据需求配置光源:单色光(单色LED)、白光(3000K或6500K)。

YDO-DM-REP 绝对/相对辐射响应测试仪,主要用于测试CCD/CMOS的绝对辐射响应度、相对响应度、响应非均匀性、信噪比、动态范围、响应非线性等参量。采用高稳定的等色温连续可调光源作为辐射测试光源。主要特点如下。

光谱范围:350nm~1050nm

光源的稳定性:0.2%/h;

光源亮度的重复性:小于1%;

辐射动态范围:10000:1;

最小照度调节量:满量程的0.1%

YDO-DM-SRM  标准辐射计,采用3片Si探测器构成的高外量子效率的陷阱探测器,采用超低噪声电路设计,具有高稳定性、高动态范围等特点。辐射量值可溯源到国家标准。

稳定性:0.1%/h;

外量子效率0.999

高辐射动态范围:20000:1

光谱响应范围:350nm~1050nm;

光谱响应度校准不确定度:0.5%。

主要参数: 

YDO-DM-SPC  相对光谱响应度测试仪

光谱分辨率

2nm

光谱重复性

小于±0.5nm

入射光源色温

6500k

光源稳定性

0.2%/h

光谱范围

350nm~1050nm

通讯接口

RS232 USB2.0

体积

800mmL600mmW300mmH

重量

20kg

电源

AC220

YDO-DM-MTF 传递函数测试仪

光学镜头传函

0.66@150lp/mm

照明光源稳定度

0.2%/h

单色光

10种单色LED光源 LED光源带宽小于20nm

白光

使用溴钨灯光源,色温2850K

MTF测试精度

优于0.01

通讯接口

RS232 USB2.0

体积

600mmL300mmW400mmH

重量

5kg

电源

AC220

YDO-DM-REP 绝对/相对辐射响应测试仪

光谱范围

350nm~1050nm

光源的稳定性

0.2%/h

光源亮度的重复性

小于1%

辐射动态范围

10000:1

通讯接口

RS232 USB2.0

体积

1000mmL400mmW400mmH

重量

10kg

电源

AC220

YDO-DM-SRM   标准辐射计

稳定性

0.1%/h

辐射动态范围

20000:1

光谱响应范围

350nm~1050nm

光谱响应度校准不确定度

0.5%

体积

100mmL50mmW50mmH

重量

1kg

通讯接口

RS232 USB2.0

电源

AC220

 

主要应用领域:

应用于CCD/CMOS生产企事业单位,该系统可以作为CCD/CMOS产品辐射响应参数的检验测试设备。为您的产品质量保驾护航。

应用于小型相机的制造(研制)单位,在CCD/CMOS装配相机之前,对购买的CCD/CMOS进行批量测试,尽早剔除不合格的CCD/CMOS,提高相机的生产效率和产品质量。同时也可用于小型相机(小于Φ100mm口径)的光电辐射响应性能测试。

应用于光学遥感器研制单位,目前光学遥感器为实现大视场和宽覆盖,常使用多片图像传感器(CCD/CMOS)拼接成为较长的焦平面,在焦平面拼接前的CCD/CMOS辐射性能测试尤为重要,目的是通过测试挑选性能较一致的一组芯片应用于焦平面上,可以有效提升光学遥感器的使用性能。由于焦平面拼接周期长,拼接难度大,通过CCD/CMOS测试尽早剔除不合格品,避免因CCD/CMOS的问题重复拼接,为相机的研制赢得宝贵的时间,并能保证遥感器的质量。

主要应用案例

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航天大面阵CCD光电参数测量系统实物图片

该系统为航天所的定制产品,主要用于测试面阵CCD的光电辐射响应性能测试参数,包括相对光谱响应度、辐射响应度、响应均匀性、信噪比、动态范围等参量。

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新疆理化所CCD光电参数测试设备实物图片

  该系统为新疆理化所的定制产品,主要用于CCD或CMOS在经过抗辐照总剂量试验前后的辐射响应性能的变化。该系统包括相对光谱响应度测试、MTF测试、绝对辐射响应度测试??梢越先娴牟馐訡CD/CMOS的辐射响应性能。用户反应产品性能稳定。

 

 

 


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